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2024

7-31

鎢燈絲掃描電鏡可用于納米材料、復(fù)合材料、陶瓷材料、金屬材料、高分子材料、薄膜材料、建筑材料、生物材料、電子材料、導(dǎo)體與非導(dǎo)體地礦、考古等表面微觀形貌觀察及成分分析。鎢燈絲掃描電鏡通過對(duì)電子槍內(nèi)的鎢燈絲加高電壓，使電子槍處于熱激發(fā)狀態(tài)，在陽極作用下，處于熱激發(fā)的電子槍就可以激發(fā)出電子束。經(jīng)過掃描線圈磁場(chǎng)的控制，電子束在樣品表面逐點(diǎn)掃描，激發(fā)出二次電子、背散射電子等物理信號(hào)，經(jīng)探測(cè)器收集、放大器放大后，調(diào)制得圖像。鎢燈絲掃描電鏡適合大量的常規(guī)檢測(cè)。鎢燈絲掃描電鏡的分辨率通常較高，...

2024

7-18

掃描電鏡（SEM）操作指南：如何獲得高質(zhì)量的圖片

如何評(píng)價(jià)SEM圖片的質(zhì)量？這是一個(gè)頗為復(fù)雜的問題，涉及到主觀因素。SEM圖的解讀需要觀察者根據(jù)自己的經(jīng)驗(yàn)和知識(shí)進(jìn)行分析和判斷，其中觀察者的主觀偏見或期望可能會(huì)影響對(duì)圖像的解讀，比如刻意避開不理想的區(qū)域，選擇局部OK區(qū)域來代表自己的預(yù)期。如果忽略主觀因素，那怎么才算一張高質(zhì)量的SEM照片呢？從視覺感受出發(fā)：1.要具備高分辨能力，能夠清晰地顯示樣品的細(xì)節(jié)和顯微結(jié)構(gòu)，邊界銳利，不模糊。2.襯度適中，突出樣品的特征，使不同部分易于區(qū)分。3.低噪聲，具有足夠的信噪比，實(shí)現(xiàn)圖像細(xì)節(jié)的高清...

2024

7-13

透射掃描電子顯微鏡的主要應(yīng)用領(lǐng)域有哪些？

透射掃描電子顯微鏡是一種利用電子束在樣品上掃描，通過接收透射電子信號(hào)或二次電子信號(hào)來成像的電子顯微鏡。其主要應(yīng)用領(lǐng)域包括：1、材料科學(xué)：透射掃描電子顯微鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用非常廣泛，包括納米材料的形貌和結(jié)構(gòu)分析，如納米顆粒、納米線、納米膜等；材料的微觀結(jié)構(gòu)研究，如晶體缺陷、相變、晶界等；以及材料的性能研究，如力學(xué)性能、電學(xué)性能、磁性能等。2、生物學(xué)：在生物學(xué)中的應(yīng)用主要包括細(xì)胞和組織的超微結(jié)構(gòu)研究，如細(xì)胞膜、細(xì)胞器、病毒等；生物大分子的結(jié)構(gòu)研究，如蛋白質(zhì)、核酸、多糖等；以及生...

2024

7-11

如何獲取導(dǎo)電不良樣品的高質(zhì)量SEM圖

掃描電鏡的使用者都不愿意遇到的一大類試樣就是導(dǎo)電不良的樣品，比如聚合物薄膜、玻璃、陶瓷等，由于這些試樣電導(dǎo)率都較低，尤其是玻璃，甚至低于10-10S/m，由此帶來的荷電效應(yīng)問題，使得我們想要得到一張高質(zhì)量的SEM圖難度較大，今天我們就來聊一聊如何解決此類問題。首先，進(jìn)入大部分用戶腦海的肯定是“鍍金”一詞，即采用離子濺射儀在試樣表面鍍上一層薄薄的金屬膜，改善導(dǎo)電性，但其中的問題是Pt/Au顆粒尺寸一般是納米級(jí)，如Pt顆粒尺寸一般是2~3nm，但是由于真空度的影響，在較低的真空下...

2024

7-10

場(chǎng)發(fā)射電鏡在半導(dǎo)體工業(yè)中的應(yīng)用有哪些？

場(chǎng)發(fā)射電鏡是一種利用場(chǎng)發(fā)射電子槍產(chǎn)生高亮度、細(xì)聚焦的電子束來掃描樣品表面，并通過檢測(cè)從樣品表面散射出來的電子信號(hào)來獲取高分辨率圖像的顯微鏡。在半導(dǎo)體工業(yè)中，場(chǎng)發(fā)射電鏡的應(yīng)用非常廣泛，主要包括以下幾個(gè)方面：1、缺陷分析：它可以用于觀察半導(dǎo)體材料和器件中的微觀缺陷，如晶格缺陷、位錯(cuò)、層錯(cuò)等。這些缺陷可能會(huì)影響半導(dǎo)體器件的性能和可靠性，因此對(duì)其進(jìn)行精確分析至關(guān)重要。2、納米結(jié)構(gòu)表征：隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展，納米尺度的結(jié)構(gòu)越來越多地被應(yīng)用于器件制造中。也能夠提供納米級(jí)別的高分辨率圖像，...

2024

7-7

FIB雙束電鏡的真空系統(tǒng)是如何工作的？

FIB雙束電鏡是利用電磁透鏡將離子束聚焦成非常小的點(diǎn)，然后用這個(gè)點(diǎn)在樣品上進(jìn)行掃描，通過檢測(cè)二次電子或背散射電子信號(hào)來獲取樣品表面信息的設(shè)備。常用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)、生命科學(xué)等領(lǐng)域中的微觀分析、刻蝕和沉積等操作。FIB雙束電鏡的真空系統(tǒng)對(duì)于其正常運(yùn)作至關(guān)重要，因?yàn)楦哒婵窄h(huán)境可以保證離子束和電子束不會(huì)與氣體分子發(fā)生相互作用，從而避免束流散射和能量損失，確保成像和加工的精確性。下面是FIB雙束電鏡真空系統(tǒng)的一般工作原理：1、初級(jí)泵抽：?jiǎn)?dòng)時(shí)，首先會(huì)使用機(jī)械泵或旋片泵進(jìn)行初級(jí)抽...

2024

7-4

sem掃描電鏡用于哪些科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域的研究？

sem掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，通過收集二次電子、背散射電子等信號(hào)來獲取樣品表面形貌和成分信息的顯微鏡。sem掃描電鏡具有高分辨率、大景深、簡(jiǎn)便的樣品制備等優(yōu)點(diǎn)，因此在許多科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域中得到了廣泛應(yīng)用。1、材料科學(xué)：在材料科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用非常廣泛，包括金屬材料、陶瓷材料、高分子材料、復(fù)合材料等。通過使用，可以觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)、晶粒尺寸、相分布、缺陷等，從而為材料的性能優(yōu)化和新材料的設(shè)計(jì)提供重要信息。2、冶金學(xué)：在冶金學(xué)領(lǐng)域主要用于研究金屬和合金的微觀結(jié)構(gòu)、相變、...

2024

6-29

聚焦離子束電鏡可以用于哪些場(chǎng)合？

聚焦離子束電鏡是將液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過離子槍加速,聚焦后照射于樣品表面產(chǎn)生二次電子信號(hào)取得電子像。具有使用方便,產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定,分析高效等特點(diǎn)。具有特殊的樣品制備和三維成像能力，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、生命科學(xué)等領(lǐng)域。聚焦離子束電鏡的主要應(yīng)用：1.定點(diǎn)剖面形貌和成分表征：通過精確控制離子束的位置和能量，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品特定區(qū)域的精確切割和分析。2.TEM樣品的制備：該產(chǎn)品是制備超薄樣品截面的理想選擇，為透射電子顯微鏡(TEM)分析提供高質(zhì)量的樣品。3.微納結(jié)構(gòu)的處...

2024

6-16

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡在環(huán)境科學(xué)研究中的應(yīng)用

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種使用場(chǎng)發(fā)射電子源的高性能掃描電鏡。它具有高分辨率和深景深的優(yōu)點(diǎn)，能夠提供納米級(jí)別的表面形貌和成分信息。在環(huán)境科學(xué)研究中，場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的應(yīng)用非常廣泛，以下是一些主要的應(yīng)用場(chǎng)景：1、顆粒物分析：它可以用于分析空氣或水中的顆粒物，如灰塵、煙霧、泥沙等。通過觀察顆粒物的形貌、大小和聚集狀態(tài)，可以研究其來源、傳輸和沉積過程，從而為污染控制和治理提供依據(jù)。2、污染物分析：也可以用于檢測(cè)和分析環(huán)境中的污染物，如重金屬、有機(jī)污染物等。通過結(jié)合能量色散X射線光譜(EDS)...

2024

6-13

鎢燈絲掃描電鏡在使用時(shí)有哪些注意事項(xiàng)？

鎢燈絲掃描電鏡是一種使用細(xì)聚焦的電子束來掃描樣品表面，并通過檢測(cè)從樣品表面反射的二次電子和背散射電子來產(chǎn)生圖像的顯微鏡。在使用鎢燈絲掃描電鏡時(shí)，需要注意以下事項(xiàng)：1、樣品準(zhǔn)備：確保樣品適合在高真空環(huán)境中觀察，不含有易揮發(fā)或易分解的成分。樣品應(yīng)該干凈、干燥，并且具有良好的導(dǎo)電性。非導(dǎo)電樣品可能需要涂覆一層導(dǎo)電材料(如金、鉑或碳)。2、樣品安裝：小心地將樣品安裝在樣品臺(tái)上，確保其穩(wěn)固且不會(huì)在成像過程中移動(dòng)。避免直接觸摸樣品表面，以免造成污染或損壞。3、真空條件：在啟動(dòng)之前，確保樣...